دوره تحلیل پتنت ابزاری مفید برای حل چالش فنی در پژوهش

به همراه معرفی حمایت‌های کانون از ثبت اختراع خارجی
۱۱ خرداد ۱۴۰۴ | ۰۸:۲۳ کد : ۴۷۹۵۲ اخبار
تعداد بازدید:۸۷
دوره تحلیل پتنت ابزاری مفید برای حل چالش فنی در پژوهش

«مرکز مالکیت فکری معاونت پژوهش و فناوری دانشگاه تهران و معاونت پژوهش و فناوری دانشکدگان فنی» با همکاری «کانون مدیریت دارایی‌های فکری معاونت علمی ریاست جمهوری»، دوره تحلیل پتنت ابزاری مفید برای حل چالش فنی در پژوهش را «به‌صورت حضوری» در تاریخ سه‌شنبه ۲۰ خرداد ساعت ۱۰ تا ۱۲ برگزار می‌کند.

سرفصل‌ها:

• آشنایی با پتنت و کاربرد آن در پژوهش
• تفاوت پتنت با مقاله علمی
• پایگاه‌های رایگان جستجوی پتنت
• چگونه پتنت بخوانیم و تحلیل کنیم؟
• ایده‌گرفتن از اختراعات برای حل مسئله
• مرز استفاده از اطلاعات پتنت
• تمرین کوتاه تحلیل یک پتنت واقعی

 

آدرس: کارگر شمالی، دانشکدگان فنی دانشگاه تهران، ساختمان مرکزی، سالن کنفرانس دانشکده مهندسی معدن

برای ثبت نام رایگان بر روی لینک کلیک کنید.

کلیدواژه‌ها: مالکیت فکری


( ۱ )

نظر شما :

توجه! لطفا دیدگاه خود پیرامون این مطلب را در این قسمت درج نمایید و برای ارسال سایر درخواست ها و پیام ها به بخش تماس با ما مراجعه فرمایید.